Microscopie de force dynamique: éléments (Première partie) - CEL - Cours en ligne Access content directly
Lectures Year : 2006

Microscopie de force dynamique: éléments (Première partie)

Abstract

Ce cours en deux parties (première partie ici) introduit les deux modes dynamiques utilisés en microscopie à force atomique (AFM): mode de modulation d'amplitude (AM-AFM), plus connu sous le nom de "Tappling" et mode de modulation de fréquence (FM-AFM), également connu sous le nom de non-contact AFM. Les aspects pratiques et théoriques propres à chaque mode sont discutés et illustrés d'un point de vue expérimental. Concernant le non-contact AFM, nous détaillons point par point l'électronique de contrôle de l'instrument et illustrons son fonctionnement à partir des résultats d'un code numérique qui reprend très précisément une électronique de contrôle existante.
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Dates and versions

cel-00588297 , version 1 (22-04-2011)

Identifiers

  • HAL Id : cel-00588297 , version 1

Cite

Laurent Nony. Microscopie de force dynamique: éléments (Première partie). DEA. 2006, pp.36. ⟨cel-00588297⟩
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